原始数据预览
分支识别结果

                

磁滞回线 (红=升场, 蓝=降场)

升场背景拟合

                  
降场背景拟合

                  
统一背景

                  

线性区数据点预览

三图对比

回线宽度 ΔM(H)
扣除后数据

拟合参数
拟合结果

                

导出结果

下载扣除背景后的数据、Jc 计算结果、图表及分析报告

临界电流密度 Jc(H)
Jc 统计

                

MHLoopAnalyzer - 使用指南

什么是磁滞回线分析?

磁滞回线(M-H Loop)描述材料在外加磁场 H 作用下磁矩 M 的变化关系。通过分析回线可以提取:饱和磁矩、矫顽力、剩磁、以及超导材料的临界电流密度 Jc(Bean 模型)。

使用步骤
  1. 加载数据 — 使用内置 Demo 数据或上传 CSV/TXT/XLSX 文件。支持自动识别 H(磁场)和 M(磁矩)列。
  2. 分支识别 — 点击"重新识别分支",通过 dH/dt 符号变化将数据分为升场(红色)和降场(蓝色)两支。
  3. 背景拟合 — 在高场线性区(通常远离饱和区)拟合背景直线,用统一背景线扣除整条回线。可点击"自动识别基线"自动选择范围。
  4. 扣除回线 — 查看扣除背景后的封闭回线、回线宽度 ΔM(H),用于后续 Jc 计算。
  5. 回线拟合 — 选择 tanh 或 saturation_tanh 模型拟合扣除后的回线,或选择多项式进行经验拟合。
  6. Jc 计算 — 输入样品尺寸(mm),用 Bean 模型计算临界电流密度 Jc(A/cm²) 和 Jc(A/m²)。
各标签页说明
  • 数据 & 分支: 原始数据预览、自动分支识别结果、彩色磁滞回线图。
  • 背景拟合: 升场/降场/统一背景拟合参数与 R²、线性区范围标注图。
  • 扣除回线: 原始数据+背景线对比、扣除后封闭回线(蝴蝶翼)、ΔM(H) 宽度曲线。
  • 回线拟合: tanh / saturation_tanh / 多项式拟合结果图与参数表。
  • Jc & 导出: Jc(H) 曲线图、统计量、数据表,以及 CSV/PNG/Rmd 下载。
Bean 临界态模型

Bean 模型假设磁通完全穿透超导体时的临界态,公式为:

  • Jc (A/cm²) = 30 × ΔM (emu/cm³) / d (cm)
  • 其中 ΔM = |M_asc - M_desc| 为同一场下的升场与降场磁矩差
  • d 为样品厚度(取最小尺寸),体积由输入的厚度×宽度×长度计算
  • 注意:样品尺寸输入单位为 mm,内部自动换算为 cm
拟合模型说明
  • tanh: M = A·tanh(k·H) + B。描述理想饱和磁化,参数少且稳定。
  • saturation tanh: M = A·tanh(H/k) + c·H + B。在 tanh 基础上增加线性项 c·H,描述未完全饱和时的高场斜率(磁化率)。
  • 多项式: M = Σ aₙ·Hⁿ。纯经验拟合,灵活但无物理意义,阶数建议 3~7。
单位与换算
  • 磁场 H: 支持 Oe、kOe、T,可通过换算系数微调。
  • 磁矩 M: 支持 emu、memu、A·m²。
  • Jc 输出: 同时给出 A/cm² 和 A/m²(SI 单位)。
数据要求
  • CSV/TXT/XLSX 格式,首行为列名。
  • 必须包含磁场列(含 Magnetic/Field/Oe/T 等关键字)和磁矩列(含 Moment/Magnetization/emu 等关键字)。
  • 数据应按扫描顺序排列(H 先升后降或循环)。
  • 缺失值 (NA) 会自动跳过。
常见问题
  • 分支识别失败: 调整"平滑窗口"滑块,增加点数可抑制噪声导致的误判。
  • 背景拟合 R² 低: 扩大高场线性区范围,确保选取区域内回线呈直线。
  • tanh 拟合不收敛: 缩小拟合 H 范围,或改用 saturation_tanh;初始值自动从数据估算。
  • Jc 值异常高/低: 检查样品尺寸输入是否正确(单位为 mm),以及 ΔM 是否过小。
Reference

Bean CP. Magnetization of High-Field Superconductors. Rev. Mod. Phys. 1964;36:31-39.